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光纤微裂纹检测仪以白光干涉为原理,最初受限于延时纤的测量长度只能测试6cm,使得测试场景非常局限。经过3年多的技术钻研,在刚刚过去的2022年里,东隆科技研发工程师们攻克了这个难关,在光纤测量长度上实现了二连跳,1月测量长度从最初的6cm升级至12cm,10月测量长度从12cm升级至40cm。到了2023年年初,光纤微裂纹检测仪测量长度直接升级至1m,快速实现三级跳。然而我们每一次的系统技术优化升级,都是为用户提供更好的产品和服务体验。
本次,光纤微裂纹检测仪测量长度升级到1m,不仅为用户解决匹配跳线、测试繁琐等问题。而且还能更大限度的包容待测样品,并为测试器件留有更大空间,让用户使用起来更便捷。此外,在设备测试性能和稳定性也有了质的飞跃,在升级长度过程中,会不断迭代已有的光路和模块,进行长时间的实验验证,以优化的结构,提升设备测试效果为目的。
下图为光纤微裂纹检测仪测量保偏光链路,该器件长0.955m,末端是保偏光纤,OLI能测试出由保偏光纤双折射引起的2个不同时延峰值。OLI以1μm的采样分辨率能清晰判别出链路中光模块的好坏以及光纤裂纹检测。
保偏光链路测试图
东隆科技推出的光纤微裂纹检测仪叫做低成本光学链路诊断系统(OLI),该系统通过读取最终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗, 进而判断此测量范围内链路的性能,其事件点定位精度高达几十微米,最小可探测到-80dB光学弱信号, 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
低成本光学链路诊断系统(OLI)
产品特点
▪ 1μm采样分辨率
▪ -80dB动态范围
▪ 1m测量长度
产品应用
▪ 光纤微裂纹检测
▪ 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
▪ FA光纤阵列链路性能检测
▪ 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测