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FluoTime 200模块式荧光寿命光谱仪
TRPL Mapping是一款高性能的荧光寿命光谱分析系统,模块化设计,应用灵活,包括完整的光电器件,通过时间相关单光子计数TCSPC来记录荧光衰减。相对于普通的荧光光谱仪,FluoTime200可以获得荧光寿命、荧光光谱强度随波长变化的3D图。该系统可以配合飞秒或皮秒激光器系统使用,譬如PicoQuant公司的LDH系列的半导体皮秒激光器。利用FluoTime200,荧光寿命曲线分辨率可以低至几个皮秒。系统zui高支持100MHz的激光重复频率,并且计数率可以达到几百万次/秒。
产品特点:模块化的灵活设计皮秒级时间分辨率,基于TCSPC和MCS低时域散射单色仪高质量偏振器高级数据分析软件
产品应用:时间分辨荧光/磷光寿命光谱单线态氧荧光各向异性测试光化学研究
TRPL Mapping参数:
光学结构 | L型,X型和T型可选 |
工作模式 | TCSPC和MCS |
荧光寿命范围 | <10ps-几百ms,取决于探测器和光源 |
激发光源 | 亚纳秒LED(250-600nm);皮秒激光器(266-1990nm),亚微秒氙灯,钛宝石激光器 |
单色仪 | Czerny-Turner结构,焦长100nm,1200g/mm光栅,手调狭缝 |
探测器 | 制冷或非制冷探测器 PMT: 185nm-920nm,<180ps分辨率;包含多种探测器型号 MCP-PMT:185-910nm,10ps分辨率 NIR-PMT:900-1700nm,200ps分辨率 Hybrid-PMT:300-750nm,50ps/120ps分辨率,包含多个型号 |
软件 | 极其易用软件,支持客户定制性测量,仪器任何模块可独立控制 荧光寿命光谱分析基于数值重卷积处理,高至四阶指数的衰减函数,含杂散光校正,寿命分布曲线,各向异性测试,全局分析,严密错误分析等功能 |